三星代工厂部署是德科技低频噪声分析仪（三星代工厂部署是德科技低频噪声分析仪）
据telecompaper网10月20日报道，是德科技宣布，三星代工厂已采用KeysightE4727B高级低频噪声分析仪(A-LFNA)来测量和分析半导体器件中的闪烁噪声（1/f噪声）和随机电报噪声(RTN)。
图片来自：Baidu
是德科技5G测试解决方案将为硅制造商三星代工厂提供工艺设计套件(PDK)，其中包括基于A-LFNA数据的用于射频(RF)和模拟电路设计和验证的高精度仿真模型，三星代工厂在是德科技解决方案上投入大量资金，可见准确的低频噪声测量和建模在PDK开发中越来越重要，特别是对于5、4和3纳米的先进技术节点。
KeysightE4727BA-LFNA解决方案可测量半导体器件的低频噪声。PathWaveA-LFNA测量和编程软件创建在Path Wave Wafer Pro(WaferProExpress)测量平台之上。工程师可将系统中的测量数据导入是德科技的PathWave器件建模(IC-CAP)和PathWave模型构建器(MBP)软件，提取器件模型用于PDK开发，从而确保高精度射频和模拟低噪声电路设计和仿真的进行。
（编译：墨书）
,免责声明：本文仅代表文章作者的个人观点，与本站无关。其原创性、真实性以及文中陈述文字和内容未经本站证实，对本文以及其中全部或者部分内容文字的真实性、完整性和原创性本站不作任何保证或承诺，请读者仅作参考，并自行核实相关内容。文章投诉邮箱：anhduc.ph@yahoo.com
