集成门电路功能测试原理(OC门电路和OD门电路原理)

集成门电路功能测试原理(OC门电路和OD门电路原理)(1)

1、OC门

OC门和OD门它们的定义如下:

OC:集电极开路(Open Collector)OD:漏极输出(Open Drain)

这是相对于两个不同的元器件而命名的,OC门是相对于三极管而言,OD门是相对于MOS管。

我们先来分析下OC门电路的工作原理:

当INPUT输入高电平,Ube>0.7V,三极管U3导通,U4的b点电位为0,U4截止,OUTPUT高电平

当INPUT输入低电平,Ube<0.7V,三极管U3截止,U4的b点电位为高,U4导通,OUTPUT低电平

集成门电路功能测试原理(OC门电路和OD门电路原理)(2)

OC门电路

其中R25为上拉电阻:何为上拉电阻?将不确定的信号上拉至高电平。

假设:没有R25,那么OUTPUT的输出是通过ce与地连接在一起的,输出端悬空了,即高阻态。这时候OUTPUT的电平状态未知,如果后面一个电阻负载(即使很轻的负载)到地,那么输出端的电平就被这个负载拉到低电平,它是不能输出高电平的。

因此,需要接一个电阻到VCC,而这个电阻就叫上拉电阻。

2、OD门

OC门与OD门是十分相似的,将三极管换成了MOS管

当INPUT输入高电平,GS>阈值电压,MOS管Q1导通,Q3的G点电位为0,Q3截止,OUTPUT高电平

当INPUT输入低电平,GS<阈值电压,MOS管Q1截止,Q3的G点电位为高,Q3导通,OUTPUT低电平

集成门电路功能测试原理(OC门电路和OD门电路原理)(3)

OD门

开漏它其实利用了外围电路的驱动能力,减少了IC内部的驱动,因此想让它作为驱动电路,必须接上拉电阻才能正常工作,例如51单片机的P0口。而且驱动能力与上拉阻值和电压有关,电阻越大,相应的驱动电流就小。

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