外径千分尺怎么校准（千分尺的使用和校准）

概述

• 特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便。
• 阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其延长线上。
• 外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm，移动量为25mm。
• 有测力装置，保持恒定的测量力。

分类和结构

数显外径千分尺

工作原理

运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。

读数

读数原理：微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm。微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周。微分螺杆移动0.5mm，微分筒旋转一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm。

读数举例：

校准和技术要求

• 按现行有效版本JJG21-2008
• 主要校准设备

3、4等量块（专用量块）

平面平晶、平行平晶、刀口尺

• 专用测力仪

1、外观和各部分相互作用：目力观察和手动试验

2、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查

必要时使用杠杆千分尺检查（ 要求≤0.01mm）

3、测力：用分度值不大于0.2N的专用测力计

测力应为（5～10）N

4、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离：

用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ）

5、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离：

当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量

要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm

6、测量面的平面度：用平面平晶以技术光波干涉法

对于后续校准的可用刀口尺以光隙法

要求: 外径千分尺 ≤0.6um

壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

数显外径千分尺≤0.3um

7、数显外径千分尺的示值重复性：

在相同条件下重复测量5次分别读数，以最大与最小读数差确定

要求： ≤1um

8、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行平晶检查，或可用量块检查。

采用量块时，其4块尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组差值中最大值来确定。

要求：见下表

千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度

9、示值误差：

外径（壁厚、板厚）用5等量块，数显用4等量块校准，或用千分尺专用量块。

在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量。

(A 5.12, A 10.24, A 15.36, A 21.50, A 25.00)

A—测量下限值

示值误差要求见上表

10、数显千分尺的细分误差：在任意位置上，沿测量方向转动微分筒，每间隔0.04mm检查一次，共计12次，分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差，以其最大差值确定。

要求≤±2um

11、校对用量杆（尺寸及变动量）:

外径：在光学计或测长机上用4等量块以比较法

数显：在光学计或测长机上用3等量块以比较法

尺寸：如图所示5点中最大偏差

变动量：如图所示5点中最大与最小尺寸之差

千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量

正确使用和注意事项

• 测量前应将测量面及被测件擦试干净，等温2H（20℃±5）
• 千分尺的零位调整
• 千分尺两测量面与量块接触时，要使用测力装置，不要转动微分筒，以测力装置的棘轮断续响3声读数为准

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