x荧光光谱分析实验报告（实验室X射线荧光光谱）

X射线荧光光谱分析仪（XFR）是一种精密分析仪器，在20世纪80年代初就已经是一种成熟的分析方法，但仪器价格昂贵。作为一种重要的多元素分析手段，仪器工作分析原理是用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线强度，以进行定性和定量分析。适用于钢铁行业、金属材料、生物化工原料等很多行业中。微源检测分享一则利用X射线荧光光谱分析检测矿石样本的案例。

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将矿石样品用粉碎机磨成粉末，烘烤后准确称取3.0g样品与硼酸在玛瑙研钵充分研磨混匀，完成压片，压片后在干燥无污染的环境中贴签保存，进行无标样全定量分析法分析。检测出样品中含量在10μg•g-1以上的所有金属和非金属元素，得出样品中所含有的6种常量元素。原全元素的检测分析不仅工作量大、耗时长，而且操作繁重，采用XRF法结合分析方法完成了精密度要求，大大简化实验分析过程，并且效果很好。

X射线荧光光谱分析仪检测过程制样简单无需复杂的化学预处理方式，是最基本的制样方法，检测方法快速简便,经济且不会造成其他污染，仪器检测的优势得到了充分的发挥和展现，除了矿石检测，XRF在在土壤和环境样品分析中的应用也愈发重要，还应用于钢铁、冶金、水泥、商检等各个领域，而且还在向更细化的研究领域逐步发展。

X射线荧光光谱可以对块状、粉末类固体样品进行检测，拥有高精度、高灵敏度、无损、多元素同时测定、测试含量范围广、准确性和快速自动化分析等优点，微源实验室可提供X射线荧光光谱的样品全元素分析。实验室遵照ISO17025和GMP进行管理，为企业和科研机构生产研究过程中可能产生的杂质提供成分分析、元素检测、以及方法开发验证等系列解决方法。更多X射线荧光光谱检测欢迎评论区或私信留言！

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