仪器校准的误差不确定度怎么应用 论如何改进不合格测量系统

做某测量系统分析时，发现MSA不合格，该如何改善呢？

请拿出纸笔，做好笔记，今天给你好好上一课。

首先我们知道一个好的测量系统具备的条件：

量具良好且分辨力足够（公差1/10或过程变差1/10）

人员测量手法熟悉（测量点把握、量具使用技巧等）

选样合理（分布整个生产过程）

计量型测量系统判定标准：

结果判断%GR&R＜10%可接受10%≤%GR&R≤30%有条件接受%GR&R＞30%不接受

重复性EV对GRR的影响：

由上面两条公式可知GRR与EV成正比，而EV由R决定，故R的大小直接影响GRR的大小。（R：是三名检验员分别单独对10个件测量后的测量极差的平均值，R=(Ra Rb Rc)/3）所以MSA不合格，一是重复性EV偏高了，从而推出R偏高。反映了同一检验员测量同一零件三次，结果差别大；例如下表的针对某卡尺进行的测量系统分析A人员的数据。

从上图和上表可以明显的看出，检验员A测量零件2和零件4时，三次测量结果偏差大。重复性%EV计算结果为：45.28%，不合格。

针对上面问题的可能原因：

1

检验员对检验手法不熟悉，缺少经验；例如，从其他岗位临时调过来。　

2

测量手法发生变化；例如，此特性原本用检具检测，考核时使用了另外一种测 量工具。　

3

测量位置不好把握；

详细影响重复性可能原因，见《MSA手册》第四版P51-52

应采取措施：

1

进行测量技巧培训；例如，在正式测量前，让检验员试几遍，从旁指导等。

2

制作简易工装进行定位。　

再现性AV对GRR的影响：

跟GRR与EV的关系相似，AV中的XDIFF 的大小直接影响GRR大小。（ XDIFF ：是三名检验员分别单独对10个件测量后的零件平均值的极差；计算公式：XDIFF =MAX（ Xa，Xb，Xc）-MIN（ Xa，Xb，Xc））

所以MSA不合格，另一个原因是AV偏高了，从而推出XDIFF 偏高，反映了三个检验员之间的测量结果相差较大。

从上图可明显的看出，检验员C所测量数据比其他两名检验员的低，从而导致零件平均值的极差（ XDIFF ）被拉大。最终再现性%AV=35.18%，不合格。

针对上面问题的可能原因：

1

检验员测量手法不一致；例如，检验员C使用卡尺时力度过大或检验员A和B力度过小。

2

测量方法不一致；例如，检验员C与检验员A和B的测量固定点不一样。

3

观测造成的误差；例如，读数时读错了。

详细影响再现性可能原因，见《MSA手册》第四版P52-53

应采取措施：

1

进行测量技巧培训；例如，力度的把握。

2

测量前明确需注意的地方。　

3

零件变差PV对%GRR的影响

样品的选择十分重要，GRR样品的选取应该尽可能的覆盖制造过程中可能出现的范围。应避免的情况是：取连续的产品 ；或只取一个穴号 ；或短时间内取样 。

在过程平均附近抽出样品测量分析结果比实际不好

比过程分布更宽的范围内抽出样品测量分析结果比实际好

样品充分反应在整个过程分布时才有意义

从上面公式可知，计算%GRR时，除了GRR本身外，也受零件变差影响。%GRR 与PV成反比，而PV由RP决定，故RP越大，%GRR越小。（ RP：10个样件的极差值；RP= Xmax-Xmin）所以MSA不合格，还有一个原因是PV偏小，从而推出RP偏小，即样件的零件变差没有覆盖整个过程变差。如果零件变差覆盖整个过程变差，则体现在均值图上大部分点超出控制限。

如下图（某测量系统分析均值图）可以看出，代表零件变差的曲线大都在控制限内，由于此均值图的控制限值是以重复性误差为基础（ UCL/LCL=XP±A2R），如果没有或很少子组平均值在控制限外，说明零件间变差隐蔽在重复性中，测量变差支配着过程变差，如果用这些零件代表过程变差，则是不可接受的。

由下图（某扭矩扳手测量系统分析）可以看出，代表零件均值的点大多落在控制限外，说明了零件变差大于测量变差，这些零件可用来代表过程变差。如果出现上述样品零件变差没有代表过程变差的情况，则需重新选样，可以分多天来进行，每天取一个样品。

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