LRC数字电桥如何测量兆欧级高阻值抗电阻问题（LRC数字电桥如何测量兆欧级高阻值抗电阻问题）

最近有一些客户反映，用不同的品牌LRC数字电桥或者同一品牌的LRC数字电桥的不同型号对兆欧级高阻值电阻测量时，结果偏差很大，甚至是安捷伦、同惠的产品也是这样，经过我们咨询仪器厂家工程师查阅了技术文献，工程师走访了一些遇到这样问题的客户，仪器厂家工程师给出一下的解释，基本解决了LRC数字电桥如何测量兆欧级高阻值电阻的问题。

如下图所示，高阻值包含一个寄生pF级电容，这个电容与电阻是并联：

仪器工程师确认当使用LRC数字电桥测试高阻值电阻时，应选择Cp-Rp测试功能（并联等效电路模式），使测试电路模式与电阻的实际等效电路想匹配，如下图所示：

上图中，Xp代表寄生电容在测试频率上的电抗（电容性阻抗）。公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因素。

如果使用R-X测试功能来测试电阻，那么LRC采用的如下所示的串联等效电路：

串联等效电路模式（R-X测量中）不同于高值电阻的实际并联等效电路。因此R-X模式中的被测电阻与实际并联电阻（RP）不一致。从理论上讲，串联电阻（Rs）与并联电阻（Rp）的关系可用等式RS=Rp*D2(1 D2)表示。此处串联和并联等效电路的损耗因数（D）值是相等的：

当D值不够高（纯电阻性）时，串联电阻（Rs）总是低于并联电阻（Rp）.

所以，你在使用LRC数字电桥测量高阻值电阻时，请选择Cp-Rp测试功能（并联等效电路模式）。或者你可以使用万用表M档进行测试及购买专业电阻测试仪设备。