proe形位公差如何在装配图上隐藏（proe公差分析之均方根法-百佳学习邦）

proe公差分析之均方根法

（1）统计分析法：统计分析法是基于这样的假设：Proe零件在大批量生产时，其尺寸在其公差范围内呈正态分布。事实也是如此，针对一个零件尺寸，如果测量无数个Proe零件，并记录相同的尺寸出现的频率，可以绘制出一张尺寸大小的频率图，这张图形就是正态分布图。多数的零件尺寸值都会向着图形的中心即尺寸的平均值聚集，离平均值越远，该尺寸值出现的可能性就越小。

统计分析法进行公差分析的裨是多个呈正态分布的尺寸累积，因此目标尺寸也呈正态分布。

统计分析法具有以下五大特点：

1） 接近真实性。因为统计分析法是根据Proe零件尺寸制造实际情况的模拟，所以计算出来的结果与实际的产品装配情况比较吻合，真实度高。

2） 成本较低。同极值法相比，在满足相同目标尺寸判断标准的前提下，使用统计分析法对零件的公差要求比较宽松，零件的制造成本较低。

3） 产品较容易设计。由于不必零件制造的最不利的情况，使用统计分析法时产品设计较容易。

（6-3）式中，Tasm是所示目标尺寸的公差；Ti是尺寸链上的公差。

例：A=54.00mm±0.20mm，B=12.00±0.10mm，C=13.00±0.10mm，D=16.00±0.15mm，E=12.50±0.10mm，利用均方根法求目标尺寸X名义值和公差。

1）计算X的名义值：X的名义值的计算与极值法相同，为

DX=DA DB DC DD DE

=54.00mm (-12.00)mm (-13.00)mm (-16.00)mm (-12.50)mm

=54.00mm-12.00mm-13.00mm-16.00mm-12.50mm

=0.50mm

2）计算X的公差：利用下式，X的公差为

目标尺寸X的值为

0.50±0.30mm

最大值为：0.50mm 0.30mm=0.80mm

最小值为：0.50mm-0.30mm=0.20mm

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